功率半导体器件CV测试系统
所在地:湖北省武汉市
联系人:陶女士
价格:面议
品牌:普赛斯仪表
发布时间:2023-12-15
【产品详情】功率半导体器件CV测试系统
查看该公司全部产品>>系统方案 普赛斯半导体功率器件C-V测试系统主要由源表、LCR 表、矩阵开关和上位机软件组成。LCR表支持的测量频率范围在0.1Hz~1MHz,源表(SMU)负责提供可调直流电压偏置,通过矩阵开关加载在待测件上。 进行C-V 测量时,通常在电容两端施加直流偏压,同时利用一个交流信号进行测量。一般使用的交流信号频率在10KHz 到1MHz 之间。所加载的直流偏压用作直流电压扫描,扫描过程中测试待测器件待测器件的交流电压和电流,从而计算出不同电压下的电容值。 系统优势 频率范围宽:频率范围10Hz~1MHz连续频率点可调; 高精度、大动态范围:提供0V~3500V偏压范围,精度0.1%; 内置CV测试:内置自动化CV测试软件,包含C-V(电容- 电压),C-T(电容- 时间),C-F(电容 - 频率)等多项测试测试功能; 兼容IV测试:同时支持击穿特性以及漏电流特性测试; 实时曲线绘制:软件界面直观展示项目测试数据及曲线,便于监控; 扩展性强:系统采用模块化设计,可根据需求灵活搭配; 更多有关功率半导体器件CV测试系统详情找普赛斯仪表专员为您解答一八一四零六六三四七六
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